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X荧光硅铝分析仪 X射线测定仪

产品简介

X荧光硅铝分析仪 X射线测定仪
X荧光硅铝分析仪 性能特点:
1 、微机化集成为一体,结构紧凑,外形美观。
2、大屏幕液晶显示,全中文菜单提示操作,使用极为方便。
3、分析时间短,1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。

产品型号:
更新时间:2024-09-11
厂商性质:生产厂家
访问量:413
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X荧光硅铝分析仪  X射线测定仪
X荧光硅铝分析仪 性能特点:
1 、微机化集成为一体,结构紧凑,外形美观。
2、大屏幕液晶显示,全中文菜单提示操作,使用极为方便。
3、分析时间短,1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。
4、仪器检测时不破坏样品,样品可重复使用。
5、不用任何化学试剂、无三废排放,不含放射源、低耗电,符合环保节能要求。
6、数据存储量大,含量结果、仪器自检数据都可查询,避免了打印耗材。
7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。
8、可与配料系统联网,实现自动控制。
 
X荧光硅铝分析仪 技术指标:
1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%~100% 
2、分析精度:标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%
3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%~15%,通过标定工作曲线选定。
4、分析时间: n*60秒(n为1~5自然数)。
5、使用条件: 供电AC200V~240V;环境温度0~40℃;相对湿度<85%(30℃)。
6、整机功耗: <30W 
7、整机尺寸:468mm*368mm*136mm 
8、整机重量:13.8kg

X荧光硅铝分析仪  X射线测定仪

X荧光钙铁分析仪选用X射线管作激发光源,X射线管产生的射线激发样品,样品中元素的k层电子被击出,形成空穴,原子处于激发状态,随后,外层电子立即填充k层电子空穴而产生电子跃迁,电子跃迁时释放能量,发射各荧光元素的特征X射线(即X荧光)。

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